地點:圖書館第二會議室
主要內容:
1. X射線衍射技術的最新進展 陳京一 X射線衍射儀資深應用專家
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射會產生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。所以X射線衍射儀是確定樣品物相和晶形結構的必備分析手段。
本次講座主要介紹X射線衍射儀的在科學研究,尤其是材料、化學、化工、環(huán)境、藥品等應用方向和技術最新進展。
2. X射線熒光光譜分析技術及應用 薛石雷 X射線產品資深顧問
X射線熒光光譜儀器是一種快速的、非破壞式的物質測量方法,主要用于測量樣品的主含量及微量含量的元素組成,也可以進行單層、多層薄膜、鍍層的元素測定和膜厚測定。主要特點為測試速度快、前處理簡單且無污染、樣品無損。
本次講座主要介紹X射線熒光光譜技術的原理和在科研中的應用。
報告人簡介:
陳京一 X射線衍射儀資深應用專家
1982年于中國科學技術大學地球與空間科學系地球化學專業(yè)獲得理學學士學位,1985年于中國科學院上海冶金研究所(現(xiàn)微系統(tǒng)所)獲得工學碩士學位,碩士期間師從中國著名X射線晶體學家許順生先生。1985年至1995年上海冶金所從事研究工作,1995年加入飛利浦分析儀器事業(yè)部工作至今,現(xiàn)為馬爾文帕納科公司XRD資深應用專家。
薛石雷 X射線產品資深顧問
從事X射線分析儀的銷售管理、應用支持、產品支持等工作超過20年,曾任原帕納科公司中國區(qū)經理,原帕納科亞太應用實驗室經理,馬爾文帕納科交叉業(yè)務發(fā)展經理等職,F(xiàn)為帕納科公司資深顧問及產品專家。
歡迎廣大師生前來聆聽!
編輯/岳向麗
審核/岳向麗、王佳、閻丕濤
審核/岳向麗、王佳、閻丕濤